Aparatura

Mikroskop AFM NanoWizard® 4 BioScience firmy JPK (Bruker)

Rok produkcji

Specyfikacja

Mikroskop sił atomowych  NanoWizard® 4 BioScience (AFM) połączony z mikroskopem odwróconym, cyfrowymi kamerami, lampą fluorescencyjną i systemem grzewczym łączy atomową rozdzielczość i szybkie skanowanie badanych powierzchni. Hybrydowy układ umożliwia jednoczesne badanie próbek w sposób optyczny oraz nanomechaniczny. Obudowa akustyczna oraz podgrzewana komora zapewnia stabilność mechaniczną i termiczną przy długoterminowych badaniach komórek żywych oraz daje możliwość obserwacji ich dynamiki w czasie rzeczywistym.

Specyfikacja techniczna:

•          Obrazowanie w cieczy w wysokiej rozdzielczości;

•          Kontrola temperatury podczas pomiaru w zakresie od 15°C do 60°C;

•          Ilościowe obrazowanie w wysokiej rozdzielczości (QI-Mode);

•          Kompatybilność z mikroskopem odwróconym Zeiss Observer D1.

Tryby pracy:

•          Tryby obrazowania: Contact Mode, AC mode, QI-Mode;

•          Spektroskopia sił (adhezja, elastyczność), modulacja siły;

•          Przewodnościowy AFM (CAFM).

• Analiza aktywności przeciwbakteryjnej/przeciwgrzybiczej związków oraz systemów - pomiary topografii i właściwości mechanicznych komórek.
• Pomiary właściwości fizykochemicznych mikroobiektów - analiza ilościowa i jakościowa cząstek technicznych i biologicznych.
• Badania topograficzne, mikro-mechaniczne, adhezyjnie powierzchni biomateriałów, w tym ceramiki, metali, polimerów.
• Obrazowanie i badanie reologiczne kultur komórkowych. Badania zmian morfologii i elastyczności w czasie rzeczywistym.
• Wyznaczanie właściwości mechanicznych materiałów biopsyjnych.